Файл:Измерение параметров тонких пленок на эллипсометре UVISEL.jpg
Материал из ЭНЭ
Размер при предпросмотре: 800 × 599 пикселей. Другое разрешение: 2163 × 1619 пикселей.
Исходный файл (2163 × 1619 пикселей, размер файла: 507 КБ, MIME-тип: image/jpeg)
Спектрально-диагностический комплекс для исследования свойств полимерных и нанокластерных материалов. М.н.с. лаборатории нелинейной оптики поверхности и лазерно-плазменных процессов Молчанова С.И. проводит измерения параметров тонких пленок на эллипсометре UVISEL фирмы HORIBA JOBIN YVON.
(с)Фото ИПЛИТ РАН
История файла
Нажмите на дату/время, чтобы просмотреть, как тогда выглядел файл.
| Дата/время | Миниатюра | Размеры | Участник | Примечание | |
|---|---|---|---|---|---|
| текущий | 22:23, 13 мая 2010 | | 2163 × 1619 (507 КБ) | Evgen (обсуждение | вклад) | Спектрально-диагностический комплекс для исследования свойств полимерных и нанокластерных материалов. М.н.с. лаборатории нелинейной опт |
- Вы не можете перезаписать этот файл.
Использование файла
Следующая 1 страница ссылается на данный файл:
